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日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)
● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量"的新產(chǎn)品。

產(chǎn)品型號:ZETA ELSZneo
更新時間:2025-04-09
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
訪問量:976
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日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)


ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。另外,也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池,通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中,從而擴大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi),可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

● 可對應(yīng)從稀薄到濃厚溶液(~40%)寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定,可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態(tài)光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態(tài)光散射法可測量微流變學(xué)

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù),可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量

● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析

● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)

日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)

日本大塚otsuka SMART光學(xué)膜厚計測厚儀

可攜帶至現(xiàn)場的手持式,可測量0.1μm單位,具有形狀的樣品也可非破壞的測量。 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜。與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到絕對值!



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